HS编码: 90314100.00

制造半导体器件(包括集成电路)时检验半导体晶圆、器件(包括集成电路)或检测光掩模或光栅用的仪器和器具

商品描述:制造半导体器件(包括集成电路)时检验半导体晶圆、器件(包括集成电路)或检测光掩模或光栅用的仪器和器具第90章其他税目未列名的

基本信息
商品名称

制造半导体器件(包括集成电路)时检验半导体晶圆、器件(包括集成电路)或检测光掩模或光栅用的仪器和器具

英文名称:Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices

所属类目 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件
所属章节 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目 本章其他品目未列名的测量或检验仪器、器具及机器;轮廓投影仪
法定单位 台/千克

申报要素

(共10项)
1:品名; 2:品牌类型; 3:出口享惠情况; 4:用途; 5:功能; 6:品牌(中文或外文名称); 7:型号; 8:GTIN; 9:CAS; 10:其他;
监管条件 (无) -
检验检疫类别 (无) -
税率信息
税种 税率
进口关税(最惠国) 0
进口关税(普通) 17%
暂定进口税率 -
进口增值税 13%
出口关税 -
出口退税 13%
消费税率 0%
个人行邮税号【27000000】
行邮名称 进口税税款 规格 单位
其他物品 30%
10位HS编码+3位CIQ代码(中国海关申报13位海关编码)
HS编码+CIQ代码 商品信息
9031410000.999 制造半导体器件的检测仪和器具(第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的)
申报实例汇总
HS编码 商品名称 商品规格
9031410000.999 制造半导体器件的检测仪和器具(第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的) -
90314100.00 变焦光学系统 实验室用|集成电路,半导体|无牌|无型号|无测试结果显
90314100.00 半导体膜厚测量仪(旧) 在制造半导体器件工艺中,用于测量晶片表面镀膜的厚度|测
90314100.00 半导体检测设备 用于半导体晶圆制造检测|检测|KLA-TENCOR|K
90314100.00 硅晶片检测仪 用光学原理检测硅晶片是否有隐裂|用于检测硅晶片质
90314100.00 制造半导体器件的检测仪和器具 对氮化镓、硅等半导体材料结构进行检测分析|用光学方法对氮化
90314100.00 静电卡盘 芯片在反应室中通过在静电卡盘上依靠静电固定,进行工艺处
90314100.00 多晶硅电池片分色检验仪 用光学原理检验多晶硅电池片|用于检验多晶硅电池片外
90314100.00 半导体颗粒测试仪(旧) 用来检测半导体晶片表面的颗粒|光路发生部分产生光束,射
90314100.00 硅片颗粒扫描仪(旧) 用于检测芯片表面颗粒数量和颗粒直径|测芯片表面颗粒直径和颗
90314100.00 DVD光学头参数测量调整仪/PULSTE (O-PAS700S/电压100V)
90314100.00 静电卡盘 制造半导体芯片过程中,芯片在反应室中通过静电卡盘上依靠
90314100.00 全自动晶粒挑拣机 使用设备,根据程序指令及自动视觉影像辨识,将符合要求的
90314100.00 半导体晶片光学检测仪(旧) 检测半导体晶片表面缺陷;KLATencor;KLA2
90314100.00 三维管脚检测仪(旧) 检测用;品牌ICOS;检测;型号CI-T1XO
90314100.00 外观检查机/用于检查线路板成品 V22R2
90314100.00 检测仪 TESTER
90314100.00 水平仪 20-107578-00
90314100.00 DVD光学头评价机/PULSTEC 光学头评价/O-PAS710A交流100V
90314100.00 半导体器件测试机, DC2600
90314100.00 晶格图像检测机 型号:LEDA-PNP M6600;检测对象:LED芯片,无测试结果;显
近期网友查看